Ho costruito un piccolo tester prova-transistor sfruttando uno schema pubblicato da Nuova Elettronica, e l'ho utilizzato per mettere alla prova un 2SC2166C, NPN per radiofrequenza, che è risultato difettoso.
Allora ho acquistato un ricambio, un 2SC2166 (ATTENZIONE: senza la C finale), che per ignoranza credevo gli fosse equivalente, ma avendo un guadagno diverso non l'ho potuto usare per rimpiazzare il primo.
Poi, per curiosità, ho testato le singole giunzioni del 2SC2166C difettoso con un tester ICE 680R (sfruttando la modalità "Prova diodi e transistor") e le giunzioni sono risultate perfette, ripeto: provate SINGOLARMENTE, con il tester ICE.
Allora ho contattato la rivista e mi hanno detto che quel prova- transistor non è affidabile per misure su semiconduttori di potenza, con i quali è necessario affidarsi ad altra strumentazione.
Dopo parecchio tempo, ho dovuto ripensare a tutto ciò e mi è sorto un dubbio: come mai il prova-transistor dava per difettoso il 2SC2166C (le cui giunzioni risultavano integre con l'ICE
680R), benchè (per le ragioni avanzate da N.E.) questa non poteva essere considerata un misura attendbile, mentre lo stesso prova-transistor dichiarava perfettamente funzionante il 2SC2166 (senza "C") da me acquistato come ricambio? Sono entrambi due NPN di potenza per RF, può essere la differenza di guadagno un fattore critico per l'esito di una misura su tali componenti?Poichè voglio sia CHIARO che NON è in dubbio l'efficienza del prova-transistor, nè la parola di Nuova Elettronica (ci mancherebbe), vi chiedo:
visti gli esiti delle misure effettuate, visto che il circuito in cuì è tuttora inserito il 2SC2166C si comporta in modo anomalo, dato che il 2SC2166 non posso usarlo in quanto incompatibile per colpa di quella "C" mancante,
PERTANTO
mi conviene continuare a dubitare della reale efficienza del
2SC2166C e provvedere alla ricerca & acquisto di un nuovo omonimo (con la "C", stavolta)?Grazie in anticipo per ogni risposta.
Ciao.
Chogokin Z