skaningowy mikroskop elektronowy

Użytkownik Jacek napisał:

O ile twoja dziewczyna nie myli SEM z STM lub AFM, to skaningowy mikroskop elektronowy to jest "zwykly" mikroskop elektronowy z mozliwoscia przemiatania powierzchni probki. Informacje o mikroskopie elektronowym znajdziesz w prawie kazdej ksiazce z fizyki lub encyklopedii. Jesli natomiast twoja dziewczyna myli skaningowy mikroskop elektrony ze skaningowym mikroskopem tunelowym lub sil atomowych to informacje na temat tych urzadzen beda trudniejsze do zdobycia, gdyz to sa wynalazki ostatnich lat. Pozdrawiam Tomek

to ma byæ SEM z tego co pamiêtam :) do badania powierzchni sztucznych warstw diamentowych masz racje jest sporo w ksi±¿kach i encyklopediach ale bardzo ogólnie w jednym zdaniu potrzebny jest dok³adniejszy opis Jacek

Przejd¼ na priva to mo¿emy pogadaæ na temat STM.

U¿ytkownik "tomek p" <laibach@won_spam.vega.umcs.lublin.pl.org> napisa³ w wiadomo¶ci news:bmdptc$6vn$ snipped-for-privacy@news.lublin.pl...

Nie mieszaj ludziom w g³owach ! Co to jest "zwyk³y mikroskop elektronowy" ? S± dwa podstawowe rodzaje mikroskopów elektronowych: transmisyjny i w³a¶nie skaningowy, nie ma niczego takiego jak "zwyk³y". Ró¿ni± siê w zasadzie wszystkim poza wi±zka elektronow± (sama wi±zka i jej ogniskowanie te¿ siê tak na prawdê zreszta ró¿ni±). Transmisyjny, jak sama nazwa wskazuje, "prze¶wietla" badan± próbkê a ogl±dany obraz jest tworzony przede wszystkim dziêki interferencji ale na zasadach optyki elektronowej. A zatem próbki w transmisyjnym MUSZ¡ byæ bardzo cienkie - to jest ca³a "magia", ¿eby dobrze takie przygotowaæ. Skaningowy natomiast o¶wietla powierzchniê próbki wi±zk± elektronów punkt po punkcie (jak w analizuj±cej lampie telewizyjnej) a natê¿enie elektronów odbitych lub poch³oniêtych przez powierzchniê próbki jest miar± "zaczernienia" analizowanego punktu. Stosuje siê równie¿ pomiar natê¿enia fotonów generowanych w "akcie" zderzenia wi±zki elektronowej z powierzchni±. W³a¶ciwy obraz jest tworzony elektronicznie na ekranie telewizyjnym lub komputerowym tak jak w TV - punkt po punkcie, linia po linii. Próbka musi byc przewodz±ca lub pokryta cienk± warstw± przewodz±c±, jednak tak aby nie zniszczyæ reliefu powierzchni. Próbki musza byc przewodz±ce, bo inaczej powierzchnia siê na³aduje i obraz...zniknie.

fizyki lub encyklopedii. To zale¿y na jakim poziomie wymagasz informacji. Te z encyklopedi i ki±¿ek do fizyki s±, ¿e tak powiem, dla mas. Lepiej u¿yæ jakiej¶ biblioteki uniwersyteckiej albo politechnicznej i znale¼æ dobra ksi±¿kê na ten temat.

urzadzen beda trudniejsze do zdobycia,

Bez przesady, wiedza o AFM itp. te¿ jest dostêpna. A ¿e nie ma jej w necie to nie oznacza, ¿e jej nie ma zupe³nie. Znowu odsy³am do "prawdziwej" powa¿nej, technicznej bibliteki albo to baz elektronicznych - Inspec, Iconda czy SCI. Pozdrawiam, zylex

"Praca to tylko marnie p³atny dodatek do ¿ycia"

Dnia Mon, 13 Oct 2003 10:31:56 +0200, Jacek napisał:

Poszukaj książki prof. W. Słówko. To konstruktor jednego z polskich mikroskopów SEM, typ MR-11, koniec lat 80-tych. Studiuję u prof. Słówko. Mam trochę materiałów o mikroskopach SEM u siebie, w postaci papierowej. Dużo wiedzy w głowie jeszcze pozostało po wykładach w zeszłym semestrze. Pytaj, jak chcesz. Najlepiej na grupie.

Dziêki za nazwisko bêdzie szuka³a :) a materia³y w postaci papierowej to jak by³o by mo¿liwe chcia³ bym siê skontaktowaæ z Tob± telefonicznie lub na priva Dziêki

tu trochê siê mylisz, warstwa nie musi byæ przewodz±ca. Zale¿y to od typu mikroskopu i kolumny. W razie czego mogê s³u¿yæ zdjêciami na których widaæ niczym nie pokryty SiO2 (zdjêcia robione w Unipressie)