Flashen vor Löten

Michael Rübig schrieb:

Das ist gängige Praxis. Vorher programmieren geht leichter und schneller als nachher über ISP.

Abgesehen von den Auswirkungen auf Datenerhalt: das Teil müsste ja dann erst in Programmieradapter. Was bei den QFP-Gehäusen zu verbogenen Beinchen, eventuell schlechterer Lötbarkeit durch einsetzende Korrosion führen kann. Das einzige was für den Programmieradapter spricht ist die oft schnellere Programmierung durch paralleles Einlesen der Daten.

MfG JRD

Rafael Deliano schrieb:

Das scheint kein Problem zu sein, die Angaben zum Datenerhalt im Datenblatt berücksichtigen die dort genannten Lötprozesse.

Gruß Dieter

Hi,

Gib mir mal einen Tipp, wo ich das im Datenblatt finde.

Michael

und auch hier gilt wieder einmal: Google ist dein Freund ;)

Heinz

Hi,

^^

Das Datenblatt habe ich! Du hast das Wörtchen "im" überlesen.

Michael

Explizit stehts bei Freescale wohl nicht drin. Massenhersteller müssen wegen der Programmierzeiten(=Kosten) wohl erst progammieren, dann Löten. Insofern wird Freescale derartiges zusichern. Mitsubishi hat für Screening von EPROM-OTPs ehedem empfohlen: programmieren, Hochtemperatur 150´C/40h, im Programmiergerät Verify machen. Wobei sie abgeraten haben 150´C/100h zu überschreiten. D.h. zwischen wirksamem Screening und Lebensdauer heruntersetzen ist kein sehr weiter Unterschied. Da die Applikation ohnehin oft checksum-Routine hat kann Verify im Programmiergerät für Anwender meist entfallen, weil das Gerät im Funktionstest Datenverlust selber feststellt.

MfG JRD

ooops ;) sorry

Heinz

Michael Rübig schrieb:

Steht manchmal bei den Lötprozessen mit dabei.

Gruß Dieter