"Marcel Müller" schrieb im Newsbeitrag news:45c75d9f$0$30315$ snipped-for-privacy@newsspool1.arcor-online.net... | Hallo, | | Henry Kiefer schrieb: | > - Schnell einschalten korreliert mit schnell ausschalten. | | Ist das so? | Ich erinnere mich dunkel, dass ich mal Dioden an einem Komponententester | (AC, Widerstand, Oszi: X:(Y-X)-Betrieb) bei 100kHz gemessen habe. Da | konnte man sehr schön die gespeicherte Energie sehen. Beim Einschalten | waren einige Dioden schnell, obwohl sie nachher beim Ausschalten ewig | brauchten. Aber das war natürlich mehr so ein Gefühl beim Blick auf die | Bilder.
Da kann ich ehrlich gesagt nix mit anfangen. Habe NIE einen Komponentester in der Hand gehabt. Ich überlege mir ne Schaltung, dann simuliere/optimiere ich die in LTspice und dann baue ich einen Prototyp und optimiere weiter.
Vermutlich hast du nicht die passende Impedanz(/Symmetrie?) außerhalb der Diode zum Messen gehabt. Die meisten Datenblätter beziehen sich auf 50 Ohm.
| | > - Gespeicherte Storage-Energie in der Diode wird vom MOSFET bei dessen Einschalten kurzgeschlossen und letztendlich verbraten. | | Ja, richtig. Aber ist es ursächlich eine /Energie/ in der Diode. Ich | dachte immer, das wäre im Wesentlichen eine Ladungsmenge. Und da spielt | die Spannung eine wesentliche Rolle. Aber so ganz sicher bin ich mir nicht. | | > - Ist UF der externen Diode höher als UF der MOSFET-Diode, dann steigt die Spannung bis auf UF des MOSFETs, um dann dort im MOSFET | > verbraten zu werden. Da die MOSFET-Diode meistens relativ langsam ist, gibts eine Spannungsspitze über UF ! | Wenn die externe Diode schnell genug ist, gibt es keine (signifikante) | Spannungsspitze über UF der externen Diode.
Dafür schaltet man die doch dazu! Klingt irgendwie wie eine Frage nach der Katze ihrem Schwanz.
| | > Die externe Diode wird | > so natürlich eher nicht genutzt und wird eventuell schaltungstechnisch "blind". | | Naja, die Spitze bleibt halt in ihr Hängen. | Und die Energie, die dann in der MOSFET-Diode gespeichert wird, kann | unmöglich größer sein als UF(extern)*ID*Totzeit. Verbraten wird sie so | oder so, ob nun in der Diode, oder im MOSFET ist Banane, oder? | | > - Solange der MOSFET nicht an ist, gilt: UF(MOSFET) x Strom = Verlustleistung! Das kann erheblich viel sein! | | Ja. Deshalb wird man den FET schnell einschalten wollen. Aber mit | externer Diode ist es auch nicht wesentlich weniger. Nur um den Faktor, | um den UF kleiner ist. Außer bei niedrigen Spannungen (Schottky) macht | das nicht viel. Und selbst da muss man mit spitzer Feder rechnen, da die | zusätzliche Kapazität der Schottkydiode u.U. wenn das FET aus ist wieder | den Wirkungsgrad verschlechtern kann.
Die interne Diode ist von den Daten her eine echt miese Si-Diode.
| | | > - Und dann gibts noch den Fall, das die interne MOSFET-Diode so langsam einschaltet, daß der MOSFET in dieser Zeit schon jenseits | > seines Breakdown ist -> MOSFET kaputt. | | Auch das sollte eine schnelle, externe Diode verhindern.
Aber worauf willst du hinaus? "zusätzliche Kapazität der Schottkydiode" - der war gut! ca. 100pF - vergleiche das selbst mit einem PowerMOSFET.
- Henry
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