Bonjour à toutes et tous, pour rester dans le domaine du "courant", j'aimerais savoir s'il existe des "gabarits" pour normaliser les courts-circuits en fonction de différentes charges et tensions (formes d'ondes de courant) ? Peut être que ça ferait une infinité de cas en fonction de la source et de la charge, mais par ex: je suis une batterie auto 12V, par mégarde je fais tomber une clef entre ses deux plots... (bon j'avoue c'est un peu violent comme exemple)
Merci par avance :)
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Pascal06
Le 13/01/2025 à 10:03, Pascal06 a écrit :
J'ai trouvé ceci de très intéressant:
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Pascal06
Le 13/01/2025 à 10:03, Pascal06 a écrit : Bonjour, je me rends compte que j'aurai pu regrouper ici mon sujet précédent (fusibles électroniques). Bref. Donc je poursuis mes recherches... Un truc tout simple: je regarde les caractéristiques d'un eFuse de chez TI. Je suis surpris quant à la mise en œuvre de la protection des courts-circuits. Je prendrai pour exemple l'un des moins cher:
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§ 8.3.3.3 il est indiqué: "The current through the device increases very rapidly during a short-circuit event. If the current exceeds 1.5 x ILIM, the device engages a fast current clamping circuit to regulate down the current faster than the nominal overcurrent response time (tLIM)" Le paramètre à prendre en compte est: tSC Short circuit response time (VOUT ↓ to IOUT ≤ ILIM) = 5µs Dans ma tête, ce genre de protection devait être la plus rapide possible, genre une 100aine (tout au plus !) de ns ! En 5µs, le fet de sortie ne risque-t-il pas de stresser ? JKB, qu'en penses tu ?
P
Pascal06
Le 18/01/2025 à 11:09, Pascal06 a écrit :
Autre exemple, le TPS25946:
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page 8: tFT | Fixed fast-trip response time (IOUT > IFT to IOUT↓|
500ns Autre passage très intéressant, en §10.2 Output Short-Circuit Measurements: " It is difficult to obtain repeatable and similar short-circuit testing results. The following contribute to variation in results: • Source bypassing • Input leads • Circuit layout • Component selection • Output shorting method • Relative location of the short • Instrumentation The actual short exhibits a certain degree of randomness because it microscopically bounces and arcs. Ensure that configuration and methods are used to obtain realistic results. Do not expect to see waveforms exactly like those in this data sheet because every setup is different. " J'ai quelque part la réponse à ma question...
J
JKB
Le 18-01-2025, Pascal06 snipped-for-privacy@toto.com a écrit :
Bonjour,
Je n'en pense rien parce que ça dépend du composant. Si la ligne est en 230 V, il y a un truc qui va dissiper la puissance résultant du court-circuit, qu'il s'agisse du transistor (si tant est qu'il s'agisse d'un transistor) ou de tout autre élément (ligne, fusible...). Si on calibre la chose à 4 A, on devra dissiper à la grosse 1 kW. Mais 1 kW sur 5 µs, ça se fait même sans radiateur. Pour peu qu'il y ait des pistes en 35µm ou des câbles, assez souvent, le transistor ne dissipera qu'une fraction de cette puissance (parce que le Rdson du transistor sera du même ordre de grandeur que le reste du circuit).
On sait réagir plus vite, mais est-ce souhaitable pour autant ?
Je rajoute qu'un tel transistor n'est pas une solution de sécurité. Ça ne passera pas les tests parce qu'il peut se transformer en barreau de silicium (surtout un MOSFET).
De toute façon, une erreur générale est de considérer qu'un fusible (ou tout autre composant de ce type) est là pour protéger un circuit. Non, il est là pour protéger ce qui est en amont, côté alimentation, sans empêcher le fonctionnement du circuit qu'il protège. Il faut donc savoir quel est le courant de mise en service, sa durée et le courant nominal et dimensionner en conséquence. C'est pour cela qu'on trouve des pages et des pages de fusibles dans les catalogues.
JKB
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pascal vieiville
Le 20/01/2025 à 14:32, JKB a écrit :
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pascal vieiville
Le 18/01/2025 à 11:09, Pascal06 a écrit :
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pascal vieiville
Le 18/01/2025 à 01:45, Pascal06 a écrit :
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