Ausfallverhalten 1N4148

Jan 22, 2023 Last reply: vor 3 Jahren 22 Replies

Ich suche nach einem Wackelkontakt in einer 12V 0,2mA Diodenmatrix aus



1N4148 (oder noch preiswerterer Type, falls es das gibt). Lötstellen sind in Ordnung. Dass so eine Glasdiode gelegentlich hochohmig wird ist sicher denkbar und könnte an einem Bondfehler, gebrochenem Gehäuse, gebrochenen Chip, Fehler an der Glas-Metallverbindung ... liegen. Aber ist ein zeitweiser Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei
20°C) bauartbedingt überhaupt möglich, oder ist das sicher ausgeschlossen? Hat da jemand Informationen?

Am 22.01.23 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Bauartbedingt sicher nicht, im Fehlerfall ist alles möglich, sagt man mir. ;)

Aber wenn du schon weißt, welche: Auswechseln und feddich, nee?

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Bei Überstrom hochohmig. Ansonsten gehen 1N4148 *NIE* kaputt :).

Am 22.01.23 um 20:52 schrieb Leo Baumann:

Ich kann also bedenkenlos 10kV in Sperrrichtung anlegen? ;)

Am 23.01.2023 um 01:05 schrieb Hartmut Kraus:

ha-ha-ha

Am 22.01.2023 um 12:45 schrieb Wolfgang Martens:

Die in der Literatur beschriebenen Wahrscheinlichkeiten der Fehlerarten bei Kleinsignaldioden sehen es so:

Kurzschluss 18% Offen 24% Parameteränderung 58%

Die Fehlerraten liegen in der Größenordnung von 1FIT, d.h. 1 in 10^9 Stunden

Hope it helps- Udo

Am Mo.,23.01.23 um 08:27 schrieb Newdo:

Danke, dass ein dauerhafter Kurzschluss bei Überlast möglich ist war mir klar. Auch, dass der dann irgendwann weggebrannt, also dauerhaft hochohmig werden könnte.

Aber hat jemand Information, ob ohne Überlast ein Kurzschluss (oder extrem hoher Leckstrom bei 20°C) auch nur zeitweise, also als Wackelkontakt auftreten kann ? Nach ESD vielleicht?

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Mal die Platine unter die Lupe genommen?

Am 23.01.2023 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

Gut dass dir das klar war.

Die angegebenen Ausfallraten und Moden beziehen übrigens sich nicht auf zerstörerischen Betrieb, sondern auf Betrieb innerhalb der spezifizierten Ratings bei definierter (Über-) Temperatur.

Gruß Udo

Am 23.01.23 um 10:07 schrieb Wolfgang Martens:

*möglich* ist es auf jeden Fall. Z.B. Kurzschluß im Kristall + Kontaktierungsproblem.

Hanno

Am 23.01.23 um 11:13 schrieb Hanno Foest:

Ich verstehe trotzdem die ganzen theoretischen Erörterungen nicht so richtig, schon gar nicht bei

Am 23.01.23 um 11:40 schrieb Hartmut Kraus:

Wie kann das nur sein.

Hanno

Am 23.01.23 um 11:42 schrieb Hanno Foest:

Komische Frage. Ich hätte wie gesagt das Ding längst ausgewechselt (kostet ja wohl kein Rittergut), und wenn die Schaltung dann immer noch 'rumspinnt, kann's ja wohl nur an der Platine liegen, oder??

Am Mo.,23.01.23 um 11:13 schrieb Hanno Foest:

Ist es denkbar, dass der Kurzschluss im Kristall nur temporär auftritt, oder ist der dann immer dauerhaft?

Am Mo.,23.01.23 um 11:50 schrieb Hartmut Kraus:

Ich suche keinen Haarriss, oder Kontaktunterbrechung, sondern von der Störung her könnte es ein temporärer Kurzschluss sein, den ich ausschließen will. Die Platinenunterseiten sind zugänglich und unauffällig. Die vielen Matrixdioden sitzen verteilt auf mehreren Platinen teils unterhalb anderen vielpoligen Bauteilen und wurden vor dem Verlöten auch noch umgebogen.

Falls kein temporärer Kurzschluss bei 1N4148 bekannt ist, verwende ich meine Zeit zuerst bei der Auswertschaltung.

Leo Baumann schrieb:

Die 1N914 könnte 4 A Impuls aushalten, die 1N4148 deren 2.

Am 23.01.23 um 12:51 schrieb Wolfgang Martens:

Naja, ich würde sagen: Du wärst auch nicht der erste, bei dem irgend ein Fehler zum ersten Mal auftritt, der hier keinem bekannt ist. Aber du machst das schon. Ich halte mich da jetzt 'raus, vor allem, weil ich ja nicht die leiseste Ahnung habe, wie deine Schaltung eigentlich funktionieren soll, und wozu.

Am 23.01.23 um 12:51 schrieb Wolfgang Martens:

Und die Oberseiten? (Vorletzte dumme Frage) ;)

Nicht schlecht. Und da könnte nicht "irgendwas" gelegentlich einen Kurzschluss machen? (Letzte dumme Frage) ;)

Am 23.01.23 um 12:26 schrieb Wolfgang Martens:

Einen temporären Kristalldefekt kann ich mir nicht so recht vorstellen. Was aber möglicherweise nur eine Aussage über meine Vorstellungskraft ist.

Hanno

Meine konkrete Erfahrung ist, daß Kurzschluß sowie Unterbrechung stets dauerhaft waren. Bei Kurzschluß wird auch von 'durchlegiert' gesprochen.

Integrierte Schaltkreise können einen Design-Fehler enthalten, so daß sie bei korrekter Verwendung und ohne Power-Funktion permanent z.B. 70°C heiß sind. Solche ICs /zermürben/ innerhalb von z.B. 3 Jahren und zeigen dann interne Wackelkontakte.

Transistoren mit Parameteränderung hatte ich auch schon. Deshalb lege ich Wert darauf, meine analoge Ohm-Messung zu erhalten:

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die eine bestimmte Charakteristik offenbart, an der ich Fehlerarten erkennen kann.

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