Zwecks Qualitätssicherung plane ich, die Spannungsfestigkeit (Uds max) von eingesetzten MOSFETs zu bestimmen.
Hat jemand Kenntnis von der hierzu angesagten Messmethode? Kann der Durchbruch zerstörungsfrei mit einem Transistor-Kennlinienschreiber wie bei einem bipolaren Transistor ermittelt werden?
Danke für alle entsprechenden Tipps.
Gruss Udo