MTBF componenti

Il 02/02/2012 15:56, stinf ha scritto:

Eh magari, anche io li ho cercati ma nulla.

Non è facile trovarla e soprattutto non è facile progettare per ottenere un certo MTBF.

Quello che posso dirti io, nel mio piccolo, è di sovradimensionare i componenti sottoposti a stress elettrici/termici.

Un metodo che una volta ho usato per verificare l'MTBF di una scheda progettata è stato fare delle prove su dei prototipi per cercare di romperli in condizione controllate.

Se il tuo circuito deve per esempio pilotare un carico da 3A, connetti carichi per correnti superiori e otterrai un certo MTBF, sperabilmente più corto di quello in condizioni normali. Se fai la stessa prova con diversi carichi otterrai MTBF diversi e con un po' di regressioni potrai poi estrapolare l'MTBF alle condizioni operative.

Un altro modo per estrapolare l'MTBF è aumentare la temperatura di lavoro. Secondo l'equazione di Arrhenius ogni aumento di 10°C dimezza l'MTBF, quindi se fai delle prove a temperature più alte puoi stimare l'MTBF in condizioni operative normali.

Quello descritto è un procedimento sperimentale ed iterativo: una volta ottenuto una stima dell'MTBF dei prototipi potrai renderti meglio conto di quello che si può rompere ed eventualmente agire di conseguenza per ottenere l'MTBF desiderato.

Francesco Sacchi ha scritto:

Ecco, temevo qualcosa del genere.

Il punto è che devo fornire l'MTBF di un prodotto già esistente, con poco margine di lavoro. Perciò speravo di trovare le informazioni direttamente dai produttori e basarmi sul componente con più restrizioni.

Sicuramente i metodi che suggerisci mi offrono qualche spunto, in particolare la questione della temperatura. Ma l'equazione di Arrhenius vale anche per componenti "solidi"? (Scusa l'ignoranza...)

In ogni caso vedrò un poco come muovermi in base anche ai tempi che mi daranno. Grazie dell'aiuto

Se cerchi fra i componenti certificati militari/spazio i dati di affidabilita` ci sono. Anche svariati costruttori di silicio forniscono i dati di affidabilita` dei loro semiconduttori (ad esempio mi pare di averli visti per linear e per ir).

Per fare il calcolo di affidabilita` di un prodotto puoi usare ad esempio i sistemi del MIK HDBK 217, che presenta due metodi di valutazione dell'affidabilita` (mi pare siano conteggio delle parti e stress analysis). Altri enti hanno altre normative e so che gli specialisti di affidabilita` hanno dei software appositi, ma non sono mai andato a curiosare troppo.

Un bel giorno stinf digitò:

Cerca "MTBF calculator" con google. E' un programmino che ti permette di riempire qualche vuoto, anche se i dati di MTBF dei componenti più importanti li dovrai comunque cercare...

Tutti i costruttori hanno questi dati, anche se spesso non li pubblicano. Prova anche a chiederli via e-mail.

Il 02/02/2012 15.56, stinf ha scritto:

a questo proposito la UL991 (Tests for safety-related controls employing solid-state devices) dice che:

The individual component failure rates may be obtained from any of the following sources: a) The tables in Reliability Prediction of Electronic Equipment, Military Handbook Number 217F, if the components comply with all the requirements of the appropriate military specification, including all acceptance and conformance tests and documentation. b) Same as in (a) multiplied by the 'commercial grade' quality factor, based on an evaluation of the manufacturer's production tests. See Marking, Section 31. c) Other widely accepted publications, such as the Rome Air Defense Command (RADC) series which accumulate historical failure data. Care needs to be exercised when this type of data is employed to ensure that the conditions of the component's use for which the historical data have been compiled approximate the intended use of the component in question.

il primo documento si trova, il secondo e' piu' difficile.

--=20 saluti lowcost

lowcost ha scritto:

Grazie a tutti. Nel frattempo mi è venuto un dubbio: ho sempre dato per scontato che MTBF e "aspettativa di vita" fossero strettamente legati, se non addirittura sinonimi... ma leggendo su wikipedia mi pare di capire di aver preso un grosso granchio.

In sostanza, modificando la domanda: esiste un metodo (o una fonte) per conoscere l'aspettativa di vita di un sistema elettronico?

Ri-grazie...