Sun Oct 23 2005 01:08, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:
AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
AVB> 22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:
AVB>>> делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не AVB>>> терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз. EK>> ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую EK>> ознакомится или освежить в памяти.
AVB> Это возражение к чему относится? Могу еще раз медленно повторить: AVB> сколько строк нужно, во столько раз скорость и упадет, неважно сколько AVB> физических строк есть у ПЗС. И потом, скорость считывания кадра влияет AVB> только на интервал _между_ измерениями, но слабо на само измерение, AVB> длительность которого ограничена только интенсивностью источника AVB> света.
AVB> Причем здесь устройство интерферометра? Как его применить к этой задаче AVB> вопрос отдельный и я его не затрагиваю. да вот при том! см.ниже.
AVB>>> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) AVB>>> не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется AVB>>> делать дополнительный анализ картинки. EK>> Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны EK>> используемого источника.
AVB> Hу насчет 0,2 мкм я не посмотрел, но точности в единицы мкм при длине AVB> волны 650 нм для теневого метода вполне реально. AVB> И, потом, можно анализировать не саму тень, а ее интерференционную AVB> картину (от краев волокна), тут тоже есть варианты.
0.2 мкм = 200 нм. все, что сравнимо с длиной волны - это уже дифракция. А учитывая на чем дифрация, то это вообще хренпоймичего. (если дифрация на "ноже" - это если можно выразится - классический случай, а у тебя - нечто круглое и блестящее)
AVB>>> кадра. Остальные проблемы носят математический характер и AVB>>> решаемы. EK>> сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в ^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^ EK>> условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной EK>> картине быть стабильной.
AVB> Да не надо ей быть стабильной. Лишь бы в процессе экпонирования кадра AVB> менялась незначительно (пренебрежимо мало). Время экспонирования может AVB> быть существенно меньше времени считывания ПЗС. Алгоритм простой: AVB> экспонирование - перенос - считывание. После переноса сигнал уже AVB> неподвержен влиянию внешней засветки, и может быть считан за большее AVB> время. Т.о. AVB> ширина временнОго окна экспонирования во времени ограничена в оснвном AVB> интенсивностью источника света и крутизной фронтов сигналов управления AVB> ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора и защищенной от света AVB> строки/полукадра, то можно включать источник света строго на время AVB> экспонирования (хоть десятки наносекунд для лазерных источников). блин. Hу и что ты будешь мерять ?
EK>> И вообще - ума не приложу, с какого бока EK>> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в EK>> интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть - EK>> можешь попробовать туда и волокно засунуть...
AVB> Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в AVB> способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры реальных AVB> ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС. Если я и усомнился в чем - так это в способности быстро снимать и передавать/обрабатывать массивы 1024x1024 * 200 мкс (~ 5Гб/сек)
AVB> Измерять диаметр AVB> волокна интерферометром предложил не я. Так что засовывать интерферометр AVB> и волокно предлагаю тебе.
AVB>>> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже AVB>>> решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы AVB>>> у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций AVB>>> стоят куда менее остро. EK>> Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать - EK>> бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют EK>> ?
AVB> Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что скорость меньше AVB> легче бороться с вибрациями стало? Как бы не наоборот. ну да. Производители микросхем дураки. Hадо экспонировать их на лету для уменьшения вибраций.
AVB> Я хочу сказать, что у любой проблемы есть то или иное решение. Что AVB> касаемо вибраций, то несколько лет назад я учавствовал в разработке AVB> скоростной системы измерения геометрических размеров (расстояний), AVB> триангуляциионный метод. AVB> Так вот, система крепилась к рельсу железнодорожного полотна, AVB> принципиально не аммортизировано, и работала во время прохождения AVB> поездов (можешь оценить порядок ударных воздействий и вибраций). AVB> Точности там конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот AVB> основной проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе не AVB> сам процесс измерения.
(а) точности не микроны (б) у измерения есть "ноль". Т.е. всякие вибрации, помехи и прочее убираются тупым усреднением. В случае интерфереграммы тупое усреднение работает, когда, допустим на оптическом столе (дура весом тонну, стоящая на виброопорах, стоящих на отдельном фундаменте) неподвижно закреплен объект измерения. А в предлагаемом случае - нет нуля. Привязаться не к чему. Интерференционные полосы - это разность хода луча в одну длину волны (650нм), но где первая, где вторая - неизвестно, если нет жесткой привязки. В случае с измерением профиля поверхности зеркала жесткая привязка в пространстве не нужна, нужно измерение профиля - чтоб был, скажем, парабалоид вращения с центром в геометрическом центре круглого зеркала.
Можно взять за ноль какой-то начальный размер волокна, но потом нужно непрерывно отслеживать полосы - куда какая убежала, т.е. "Алгоритм простой: экспонирование - перенос - считывание." работать не будет.
SY, EK