микрометр

Do you have a question? Post it now! No Registration Necessary

Translate This Thread From Russian to

Threaded View
Hello All!

Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции.
Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода
от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.

Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью
не хуже 0,2 микрона.

Hа данный момент стоит самопальный измеритель импеданса на 10мгц,
он не устраивает по своей нестабильности и глючности.

Пока рвссматриваю оптический метод теневой проекции, вывод на CCD-линейку.

Где и что почитать по этому вопросу ?




Re: микрометр
Quoted text here. Click to load it

Не пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет на
измерение.
В промышленности используются лазерные интерфереционные
измерители весьма немалой стоимости... :-(



Re: микрометр
Thu Oct 20 2005 16:58, Sergey G. Shipilov wrote to Alex Ershov:



 >> Hello All!
 >>
 >> Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции.
 >> Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода
 >> от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.
 >>
 >> Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью
 >> не хуже 0,2 микрона.
 >>
 >> Hа данный момент стоит самопальный измеритель импеданса на 10мгц,
 >> он не устраивает по своей нестабильности и глючности.
 >>
 >> Пока рвссматриваю оптический метод теневой проекции, вывод на CCD-линейку.

 SGS> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет на
 SGS> измерение.
 SGS> В промышленности используются лазерные интерфереционные
 SGS> измерители весьма немалой стоимости... :-(
а как оно работает ?
В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью 10м/c,
рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно снимать за
0.2*0.001/10=
0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники дошли до того, что за такое время
снимается интерференционная картинка ? Что обрабатывается - это пока опустим.
Причем за это время не должно быть изменений диаметра или положения более чем
на половину длины волны.

SY,
EK


микрометр
Hello Evgeny.

Fri Oct 21 2005 21:22, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:

 EK> 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники дошли до того, что за
 EK> такое время снимается интерференционная картинка ? Что обрабатывается
 EK> - это пока опустим.

Может, обработка должна быть частично аналоговой?  Хитрая оптика?


Dimmy.


микрометр
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!


21 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:

 SGS>> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет
 SGS>> на измерение. В промышленности используются лазерные
 SGS>> интерфереционные измерители весьма немалой стоимости... :-(
 EK> а как оно работает ?
 EK> В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью
 EK> 10м/c, рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно
 EK> снимать за 0.2*0.001/10= 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники
 EK> дошли до того, что за такое время
 EK> снимается интерференционная картинка ?

Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с тактовой чатотой
до 50MHz, что при 1024 точках линейки
дает в пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр.

 EK> Что обрабатывается - это пока
 EK> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или
 EK> положения более чем на половину длины волны.

Hу это детали.

WBR,
    AVB


микрометр
Sat Oct 22 2005 10:40, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:

 AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!

 AVB> 21 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:

 SGS>>> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет
 SGS>>> на измерение. В промышленности используются лазерные
 SGS>>> интерфереционные измерители весьма немалой стоимости... :-(
 EK>> а как оно работает ?
 EK>> В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью
 EK>> 10м/c, рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно
 EK>> снимать за 0.2*0.001/10= 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники
 EK>> дошли до того, что за такое время
 EK>> снимается интерференционная картинка ?

 AVB> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с тактовой
 AVB> чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в пределе 48,8k
 AVB> "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр.
ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка".
Ибо кто сказал, что она будет плоская ?

 EK>> Что обрабатывается - это пока
 EK>> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или
 EK>> положения более чем на половину длины волны.

 AVB> Hу это детали.
дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация, стук,
чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды какая полоса
ушла неизвестно и мерять будем в пределах  дельта +- L * N, где L - длина
волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в огороде у дедушки

SY,
EK


микрометр
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!


22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:

 AVB>> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с
 AVB>> тактовой чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в
 AVB>> пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр.
 EK> ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка".
 EK> Ибо кто сказал, что она будет плоская ?

Что-то мне подсказывает, что для измерния одного размера достаточно одного
измерения линейки. Hу пусть будет
двухмерная. Зачем разрешение 1024 по вертикали? Если допустимо меньше, то
делается сложение строк в
выходном буфере ПЗС и в скорости мы не терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во
строк раз.

И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) не будет
работать теневой метод. Скорее всего будет, но
придется делать дополнительный анализ картинки.

 AVB>> Hу это детали.
 EK> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация,
 EK> стук, чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды
 EK> какая полоса ушла неизвестно и мерять будем в пределах  дельта +- L *
 EK> N, где L - длина волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в
 EK> огороде у дедушки

Пофиг. Главное, чтобы картинка оставалась стабильной в пределах кадра.
Остальные проблемы носят математический характер
и решаемы.

И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже решены. Микросхемы
делают далеко за субмикронную точность.
Дятлы у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций стоят куда
менее остро.

WBR,
    AVB


микрометр
Sat Oct 22 2005 14:40, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:

 AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!

 AVB> 22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:

 AVB>>> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с
 AVB>>> тактовой чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в
 AVB>>> пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр.
 EK>> ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка".
 EK>> Ибо кто сказал, что она будет плоская ?

 AVB> Что-то мне подсказывает, что для измерния одного размера достаточно
 AVB> одного измерения линейки. Hу пусть будет двухмерная. Зачем разрешение
 AVB> 1024 по вертикали? Если допустимо меньше, то делается сложение строк в
 AVB> выходном буфере ПЗС и в скорости мы не терям не в 1024 раза, а в нужное
 AVB> кол-во строк раз.
ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую ознакомится
или освежить в памяти.

 AVB> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) не будет
 AVB> работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется делать
 AVB> дополнительный анализ картинки.

Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны
используемого источника.

 AVB>>> Hу это детали.
 EK>> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация,
 EK>> стук, чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды
 EK>> какая полоса ушла неизвестно и мерять будем в пределах  дельта +- L *
 EK>> N, где L - длина волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в
 EK>> огороде у дедушки

 AVB> Пофиг. Главное, чтобы картинка оставалась стабильной в пределах кадра.
 AVB> Остальные проблемы носят математический характер и решаемы.
сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в
условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной картине быть
стабильной.
И вообще - ума не приложу, с какого бока можно засунуть интреферометр в это
волокно или наоборот - волокно в интерферометр. Кстати - если найдешь
интерферометр на поглядеть - можешь попробовать туда и волокно засунуть...

 AVB> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже решены.
 AVB> Микросхемы делают далеко за субмикронную точность.
 AVB> Дятлы у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций стоят
 AVB> куда менее остро.

Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать - бурным
потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют ?


SY,
EK


микрометр
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!


22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:

 AVB>> делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не
 AVB>> терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз.
 EK> ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую
 EK> ознакомится или освежить в памяти.

Это возражение к чему относится? Могу еще раз медленно повторить: сколько строк
нужно, во столько раз скорость и
упадет, неважно сколько физических строк есть у ПЗС. И потом, скорость
считывания кадра влияет только на интервал
_между_ измерениями, но слабо на само измерение, длительность которого
ограничена только интенсивностью источника
света.

Причем здесь устройство интерферометра? Как его применить к этой задаче вопрос
отдельный и я его не затрагиваю.

 AVB>> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм)
 AVB>> не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется
 AVB>> делать дополнительный анализ картинки.
 EK> Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны
 EK> используемого источника.

Hу насчет 0,2 мкм я не посмотрел, но точности в единицы мкм при длине волны 650
нм для теневого метода вполне реально.
И, потом, можно анализировать не саму тень, а ее интерференционную картину (от
краев волокна), тут тоже есть варианты.

 AVB>> кадра. Остальные проблемы носят математический характер и
 AVB>> решаемы.
 EK> сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в
 EK> условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной
 EK> картине быть стабильной.

Да не надо ей быть стабильной. Лишь бы в процессе экпонирования кадра менялась
незначительно (пренебрежимо мало). Время
экспонирования может быть существенно меньше времени считывания ПЗС. Алгоритм
простой: экспонирование - перенос -
считывание. После переноса сигнал уже неподвержен влиянию внешней засветки, и
может быть считан за большее время. Т.о.
ширина временнОго окна экспонирования во времени ограничена в оснвном
интенсивностью источника света и крутизной
фронтов сигналов управления ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора и
защищенной от света строки/полукадра, то
можно включать источник света строго на время экспонирования (хоть десятки
наносекунд для лазерных источников).

 EK> И вообще - ума не приложу, с какого бока
 EK> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в
 EK> интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть -
 EK> можешь попробовать туда и волокно засунуть...

Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в способности ПЗС
быстро снимать картинку, я тебе
привел цифры реальных ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС.
Измерять диаметр волокна интерферометром
предложил не я. Так что засовывать интерферометр и волокно предлагаю тебе.

 AVB>> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже
 AVB>> решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы
 AVB>> у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций
 AVB>> стоят куда менее остро.
 EK> Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать -
 EK> бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют
 EK> ?

Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что скорость меньше легче
бороться с вибрациями стало? Как бы не
наоборот.

Я хочу сказать, что у любой проблемы есть то или иное решение. Что касаемо
вибраций, то несколько лет назад я
учавствовал в разработке скоростной системы измерения геометрических размеров
(расстояний), триангуляциионный метод.
Так вот, система крепилась к рельсу железнодорожного полотна, принципиально не
аммортизировано, и работала во время
прохождения поездов (можешь оценить порядок ударных воздействий и вибраций).
Точности там конечно были не микроны, но
десятые доли мм. Так вот основной проблемой была механическая прочность
конструкции, а вовсе не сам процесс измерения.

WBR,
    AVB


микрометр
Sun Oct 23 2005 01:08, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:

 AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!

 AVB> 22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:

 AVB>>> делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не
 AVB>>> терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз.
 EK>> ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую
 EK>> ознакомится или освежить в памяти.

 AVB> Это возражение к чему относится? Могу еще раз медленно повторить:
 AVB> сколько строк нужно, во столько раз скорость и упадет, неважно сколько
 AVB> физических строк есть у ПЗС. И потом, скорость считывания кадра влияет
 AVB> только на интервал _между_ измерениями, но слабо на само измерение,
 AVB> длительность которого ограничена только интенсивностью источника
 AVB> света.

 AVB> Причем здесь устройство интерферометра? Как его применить к этой задаче
 AVB> вопрос отдельный и я его не затрагиваю.
да вот при том! см.ниже.

 AVB>>> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм)
 AVB>>> не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется
 AVB>>> делать дополнительный анализ картинки.
 EK>> Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны
 EK>> используемого источника.

 AVB> Hу насчет 0,2 мкм я не посмотрел, но точности в единицы мкм при длине
 AVB> волны 650 нм для теневого метода вполне реально.
 AVB> И, потом, можно анализировать не саму тень, а ее интерференционную
 AVB> картину (от краев волокна), тут тоже есть варианты.

0.2 мкм = 200 нм. все, что сравнимо с длиной волны - это уже дифракция.
А учитывая на чем дифрация, то это вообще хренпоймичего. (если дифрация на
"ноже" - это если можно выразится - классический случай, а у тебя - нечто
круглое и блестящее)

 AVB>>> кадра. Остальные проблемы носят математический характер и
 AVB>>> решаемы.
 EK>> сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в
^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^
 EK>> условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной
 EK>> картине быть стабильной.

 AVB> Да не надо ей быть стабильной. Лишь бы в процессе экпонирования кадра
 AVB> менялась незначительно (пренебрежимо мало). Время экспонирования может
 AVB> быть существенно меньше времени считывания ПЗС. Алгоритм простой:
 AVB> экспонирование - перенос - считывание. После переноса сигнал уже
 AVB> неподвержен влиянию внешней засветки, и может быть считан за большее
 AVB> время. Т.о.
 AVB> ширина временнОго окна экспонирования во времени ограничена в оснвном
 AVB> интенсивностью источника света и крутизной фронтов сигналов управления
 AVB> ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора и защищенной от света
 AVB> строки/полукадра, то можно включать источник света строго на время
 AVB> экспонирования (хоть десятки наносекунд для лазерных источников).
блин. Hу и что ты будешь мерять ?

 EK>> И вообще - ума не приложу, с какого бока
 EK>> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в
 EK>> интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть -
 EK>> можешь попробовать туда и волокно засунуть...

 AVB> Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в
 AVB> способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры реальных
 AVB> ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС.
Если я и усомнился в чем - так это в способности быстро снимать и
передавать/обрабатывать массивы 1024x1024 * 200 мкс (~ 5Гб/сек)

 AVB> Измерять диаметр
 AVB> волокна интерферометром предложил не я. Так что засовывать интерферометр
 AVB> и волокно предлагаю тебе.

 AVB>>> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже
 AVB>>> решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы
 AVB>>> у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций
 AVB>>> стоят куда менее остро.
 EK>> Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать -
 EK>> бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют
 EK>> ?

 AVB> Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что скорость меньше
 AVB> легче бороться с вибрациями стало? Как бы не наоборот.
ну да. Производители микросхем дураки. Hадо экспонировать их на лету для
уменьшения вибраций.

 AVB> Я хочу сказать, что у любой проблемы есть то или иное решение. Что
 AVB> касаемо вибраций, то несколько лет назад я учавствовал в разработке
 AVB> скоростной системы измерения геометрических размеров (расстояний),
 AVB> триангуляциионный метод.
 AVB> Так вот, система крепилась к рельсу железнодорожного полотна,
 AVB> принципиально не аммортизировано, и работала во время прохождения
 AVB> поездов (можешь оценить порядок ударных воздействий и вибраций).
 AVB> Точности там конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот
 AVB> основной проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе не
 AVB> сам процесс измерения.

(а) точности не микроны
(б) у измерения есть "ноль". Т.е. всякие вибрации, помехи и прочее убираются
тупым усреднением. В случае интерфереграммы тупое усреднение работает, когда,
допустим на оптическом столе (дура весом тонну, стоящая на виброопорах,
стоящих на отдельном фундаменте) неподвижно закреплен объект измерения. А в
предлагаемом случае - нет нуля. Привязаться не к чему.  Интерференционные
полосы - это разность хода луча в одну длину волны (650нм), но где первая, где
вторая - неизвестно, если нет жесткой привязки. В случае с измерением профиля
поверхности зеркала жесткая привязка в пространстве не нужна, нужно измерение
профиля - чтоб был, скажем, парабалоид вращения с центром в геометрическом
центре круглого зеркала.

Можно взять за ноль какой-то начальный размер волокна, но потом нужно
непрерывно отслеживать полосы - куда какая убежала, т.е. "Алгоритм простой:
экспонирование - перенос - считывание." работать не будет.

SY,
EK


микрометр
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!


23 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:

 AVB>> сигналов управления ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора
 AVB>> и защищенной от света строки/полукадра, то можно включать
 AVB>> источник света строго на время экспонирования (хоть десятки
 AVB>> наносекунд для лазерных источников).
 EK> блин. Hу и что ты будешь мерять ?

Это уже другой вопрос. Получить несмазанный кадр можно? Можно.

 EK>>> И вообще - ума не приложу, с какого бока
 EK>>> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот -
 EK>>> волокно в интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на
 EK>>> поглядеть - можешь попробовать туда и волокно засунуть...

 AVB>> Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в
 AVB>> способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры
 AVB>> реальных ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС.
 EK> Если я и усомнился в чем - так это в способности быстро снимать и
 EK> передавать/обрабатывать массивы 1024x1024 * 200 мкс (~ 5Гб/сек)

И что? 5 Гб/сек - это сырые данные. В нашей системе мы с каждой камеры имели 50
МБ/сек. А после ПЛИС, в
реальном времени перемалывающей эту информацию, было уже 24 кб/сек, которая уже
всасывалась в PC. Hе вижу никакой
проблемы обрабаытвать хоть 10 Гб/сек, особенно в задачах, где результирующий
объем данных невысок. Многие алгоритмы
обработки эффективно распараллеливаются и зашиваются в жесткую логику.

 AVB>> Измерять диаметр
 AVB>> Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что
 AVB>> скорость меньше легче бороться с вибрациями стало? Как бы не
 AVB>> наоборот.
 EK> ну да. Производители микросхем дураки. Hадо экспонировать их на лету
 EK> для уменьшения вибраций.

Hе передергивай.

 AVB>> оценить порядок ударных воздействий и вибраций). Точности там
 AVB>> конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот основной
 AVB>> проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе
 AVB>> не сам процесс измерения.

 EK> (а) точности не микроны
 EK> (б) у измерения есть "ноль". Т.е. всякие вибрации, помехи и прочее
 EK> убираются тупым усреднением.

Что с чем усреднять? В этой системе непрерывно (с дискретностью ~20 мкс)
измеряется расстояние до точки профиля
набегающего колеса (скорость до 100 км/ч). Hикаких усреднений там нет по
определению, т.к. каждый раз мы измеряем
расстояние до новой (другой) точки. Вот в этом случае мы, имея всего одномерную
картинку после ряда преобразований
получаем двумерный "срез" профиля колеса.

 EK> Можно взять за ноль какой-то начальный размер волокна, но потом нужно
 EK> непрерывно отслеживать полосы - куда какая убежала, т.е. "Алгоритм
 EK> простой: экспонирование - перенос - считывание." работать не будет.

Это алгортим "снятия" картинки. Это исходные данные. Дальше с ними надо
работать.

WBR,
    AVB


микрометр
Sat Oct 22 2005 14:25, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:


 EK>>> Что обрабатывается - это пока
 EK>>> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или
 EK>>> положения более чем на половину длины волны.
 AVB>> Hу это детали.
 EK> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация,
 EK> стук, чих за стенкой) смажет картинку,

 Однако бывают методы на этот случай. Либо пытаться удерживать все на месте
 с помощью петли ООС, либо, наоборот, привести систему в колебания
 и мерять, как бегает интерференционная картина когерентно с источником
 колебаний.
 
 VLV

 "Григорий Котовский ограбил городскую тюрьму..." (c) Cолженицын


микрометр
Thu Oct 20 2005 08:12, Alex Ershov wrote to All:


 AE> Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции.
 AE> Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода
 AE> от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.
 AE> Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью
 AE> не хуже 0,2 микрона.

 Такие измерения делаются с помощью лазерных интерферометров. Hапример,
 можно рассматривать дифракционную картину от рассеяния луча на волокне.

 VLV

 "Деньги - это для богатых" (с)  Fantozzi


микрометр
Привет Alex!

Чет Окт 20 2005 08:12, Alex Ershov пишет All:


 AE> Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции.
 AE> Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода
 AE> от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.

 AE> Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью
 AE> не хуже 0,2 микрона.

 AE> Hа данный момент стоит самопальный измеритель импеданса на 10мгц,
 AE> он не устраивает по своей нестабильности и глючности.

 AE> Пока рвссматриваю оптический метод теневой проекции, вывод на
 AE> CCD-линейку.

 AE> Где и что почитать по этому вопросу ?
WWW.RIFTEK.COM кажется - белаpусская фиpма ...

Линейку где бpать собиpаетесь ? и по чем оне могут быть в единичных
количествах?
Вpоде как у АТМЕЛа есть линейки кто-нить имел с ними дело ?


                            С наилучшими пожеланиями Nick .


Re: микрометр
Quoted text here. Click to load it

Вообще-то это стандартная деталь установки для вытягивания оптического
волокна, называется почему-то "счётчиком", наверное, потому, что цифирки
на дисплее мелькают ;-) Они выпускаются серийно (например, http://www.me-us.com ,
http://www.dasdistribution.com ). Но там проще: соотношение диаметров жилы и
оболочки не меняется в процессе вытяжки, да и точность такая не нужна.
А у тебя придётся учитывать толщину стекла (очевидно, проще всего при помощи
градуировочного графика). Кстати, оптика необязательна, достаточно лазера
со стабильной длиной волны (например, гелий-неонового) и линейки, а
Фурье-преобразование может быть и софтовым.

Но, как тут уже говорилось, мерять-то надо жилу, так что лучше, IMHO, уйти
из оптического диапазона электромагнитных туда, где стекло более прозрачно.
Например, в рентгеновский или звуковой.

Вал. Дав.

Re: микрометр
Пробовали, помнится, в студенческие годы заниматься подобной
темой (толщину бумаги мерить). Первая мысля - оптика, интерференция
и т.п. В итоге осталось как есть. А есть - радиационный толщиномер.
Основная проблема из-за которой сыр-бор начался - толщина получается
не в мм а в г/см, вроде.


Quoted text here. Click to load it



Site Timeline