Hello All!
Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции. Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.
Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью не хуже 0,2 микрона.
Hа данный момент стоит самопальный измеритель импеданса на 10мгц, он не устраивает по своей нестабильности и глючности.
Пока рвссматриваю оптический метод теневой проекции, вывод на CCD-линейку.
Где и что почитать по этому вопросу ?
"Alex Ershov" snipped-for-privacy@f81.n.z2.fidonet.org> сообщил/сообщила в новостях следующее: news: snipped-for-privacy@f81.n.z2.ftn...
Не пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет на измерение. В промышленности используются лазерные интерфереционные измерители весьма немалой стоимости... :-(
Thu Oct 20 2005 08:12, Alex Ershov wrote to All:
AE> Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции. AE> Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода AE> от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона. AE> Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью AE> не хуже 0,2 микрона.
Такие измерения делаются с помощью лазерных интерферометров. Hапример, можно рассматривать дифракционную картину от рассеяния луча на волокне.
VLV
"Деньги - это для богатых" (с) Fantozzi
Привет Alex!
Чет Окт 20 2005 08:12, Alex Ershov пишет All:
AE> Есть установка, тянет микропровод, в стеклянной изоляции. AE> Скорость - 10 метров в секунду, диаметр самого провода AE> от 3 до 100 микрон, толщина покрытия около микрона.
AE> Стоит задача непрерывно измерять диаметр микропровода с точностью AE> не хуже 0,2 микрона.
AE> Hа данный момент стоит самопальный измеритель импеданса на 10мгц, AE> он не устраивает по своей нестабильности и глючности.
AE> Пока рвссматриваю оптический метод теневой проекции, вывод на AE> CCD-линейку.
AE> Где и что почитать по этому вопросу ?
Линейку где бpать собиpаетесь ? и по чем оне могут быть в единичных количествах? Вpоде как у АТМЕЛа есть линейки кто-нить имел с ними дело ?
С наилучшими пожеланиями Nick .
Вообще-то это стандартная деталь установки для вытягивания оптического волокна, называется почему-то "счётчиком", наверное, потому, что цифирки на дисплее мелькают ;-) Они выпускаются серийно (например,
Но, как тут уже говорилось, мерять-то надо жилу, так что лучше, IMHO, уйти из оптического диапазона электромагнитных туда, где стекло более прозрачно. Например, в рентгеновский или звуковой.
Вал. Дав.
Thu Oct 20 2005 16:58, Sergey G. Shipilov wrote to Alex Ershov:
SGS> From: "Sergey G. Shipilov" snipped-for-privacy@kraft-s.ru
SGS> "Alex Ershov" snipped-for-privacy@f81.n.z2.fidonet.org> сообщил/сообщила в SGS> новостях следующее: news: snipped-for-privacy@f81.n.z2.ftn...
SGS> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет на SGS> измерение. SGS> В промышленности используются лазерные интерфереционные SGS> измерители весьма немалой стоимости... :-( а как оно работает ? В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью 10м/c, рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно снимать за
0.2*0.001/10= 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники дошли до того, что за такое время снимается интерференционная картинка ? Что обрабатывается - это пока опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или положения более чем на половину длины волны.SY, EK
Hello Evgeny.
Fri Oct 21 2005 21:22, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:
EK> 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники дошли до того, что за EK> такое время снимается интерференционная картинка ? Что обрабатывается EK> - это пока опустим.
Может, обработка должна быть частично аналоговой? Хитрая оптика?
Dimmy.
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
21 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:SGS>> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет SGS>> на измерение. В промышленности используются лазерные SGS>> интерфереционные измерители весьма немалой стоимости... :-( EK> а как оно работает ? EK> В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью EK> 10м/c, рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно EK> снимать за 0.2*0.001/10= 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники EK> дошли до того, что за такое время EK> снимается интерференционная картинка ?
Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с тактовой чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр.
EK> Что обрабатывается - это пока EK> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или EK> положения более чем на половину длины волны.
Hу это детали.
WBR, AVB
Sat Oct 22 2005 10:40, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:
AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
AVB> 21 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Sergey G. Shipilov:
SGS>>> Hе пойдет. При таких размерах и точности дифракция сильно влияет SGS>>> на измерение. В промышленности используются лазерные SGS>>> интерфереционные измерители весьма немалой стоимости... :-( EK>> а как оно работает ? EK>> В том смысле как оно работает, когда "эта дура" несется со скоростью EK>> 10м/c, рабочее поле - допустим 200 микрон. Тогда картинку нужно EK>> снимать за 0.2*0.001/10= 0.0002с, т.е. за 200мкс. Что, чудеса техники EK>> дошли до того, что за такое время EK>> снимается интерференционная картинка ?
AVB> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с тактовой AVB> чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в пределе 48,8k AVB> "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр. ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка". Ибо кто сказал, что она будет плоская ?
EK>> Что обрабатывается - это пока EK>> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или EK>> положения более чем на половину длины волны.
AVB> Hу это детали. дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация, стук, чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды какая полоса ушла неизвестно и мерять будем в пределах дельта +- L * N, где L - длина волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в огороде у дедушки
SY, EK
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:AVB>> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с AVB>> тактовой чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в AVB>> пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр. EK> ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка". EK> Ибо кто сказал, что она будет плоская ?
Что-то мне подсказывает, что для измерния одного размера достаточно одного измерения линейки. Hу пусть будет двухмерная. Зачем разрешение 1024 по вертикали? Если допустимо меньше, то делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз.
И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется делать дополнительный анализ картинки.
AVB>> Hу это детали. EK> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация, EK> стук, чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды EK> какая полоса ушла неизвестно и мерять будем в пределах дельта +- L * EK> N, где L - длина волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в EK> огороде у дедушки
Пофиг. Главное, чтобы картинка оставалась стабильной в пределах кадра. Остальные проблемы носят математический характер и решаемы.
И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций стоят куда менее остро.
WBR, AVB
Sat Oct 22 2005 14:25, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:
EK>>> Что обрабатывается - это пока EK>>> опустим. Причем за это время не должно быть изменений диаметра или EK>>> положения более чем на половину длины волны. AVB>> Hу это детали. EK> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация, EK> стук, чих за стенкой) смажет картинку,
Однако бывают методы на этот случай. Либо пытаться удерживать все на месте с помощью петли ООС, либо, наоборот, привести систему в колебания и мерять, как бегает интерференционная картина когерентно с источником колебаний. VLV
"Григорий Котовский ограбил городскую тюрьму..." (c) Cолженицын
Sat Oct 22 2005 14:40, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:
AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
AVB> 22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:
AVB>>> Hаверное дошли. Еще 3 года назад мы использовали CCD-линейки с AVB>>> тактовой чатотой до 50MHz, что при 1024 точках линейки дает в AVB>>> пределе 48,8k "кадров" в секунду, т.е. 20,5 мкс на кадр. EK>> ну а теперь умножь еще на 1024, чтоб получилась "картинка". EK>> Ибо кто сказал, что она будет плоская ?
AVB> Что-то мне подсказывает, что для измерния одного размера достаточно AVB> одного измерения линейки. Hу пусть будет двухмерная. Зачем разрешение AVB> 1024 по вертикали? Если допустимо меньше, то делается сложение строк в AVB> выходном буфере ПЗС и в скорости мы не терям не в 1024 раза, а в нужное AVB> кол-во строк раз. ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую ознакомится или освежить в памяти.
AVB> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) не будет AVB> работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется делать AVB> дополнительный анализ картинки.
Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны используемого источника.
AVB>>> Hу это детали. EK>> дык это не детали, а грабли. Ибо первый же залетевший дятел (вибрация, EK>> стук, чих за стенкой) смажет картинку, а когда она восстановится куды EK>> какая полоса ушла неизвестно и мерять будем в пределах дельта +- L * EK>> N, где L - длина волны, а N=0,1,2... и точное значение N будет уже в EK>> огороде у дедушки
AVB> Пофиг. Главное, чтобы картинка оставалась стабильной в пределах кадра. AVB> Остальные проблемы носят математический характер и решаемы. сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной картине быть стабильной. И вообще - ума не приложу, с какого бока можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть - можешь попробовать туда и волокно засунуть...
AVB> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже решены. AVB> Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. AVB> Дятлы у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций стоят AVB> куда менее остро.
Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать - бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют ?
SY, EK
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:AVB>> делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не AVB>> терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз. EK> ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую EK> ознакомится или освежить в памяти.
Это возражение к чему относится? Могу еще раз медленно повторить: сколько строк нужно, во столько раз скорость и упадет, неважно сколько физических строк есть у ПЗС. И потом, скорость считывания кадра влияет только на интервал _между_ измерениями, но слабо на само измерение, длительность которого ограничена только интенсивностью источника света.
Причем здесь устройство интерферометра? Как его применить к этой задаче вопрос отдельный и я его не затрагиваю.
AVB>> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) AVB>> не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется AVB>> делать дополнительный анализ картинки. EK> Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны EK> используемого источника.
Hу насчет 0,2 мкм я не посмотрел, но точности в единицы мкм при длине волны 650 нм для теневого метода вполне реально. И, потом, можно анализировать не саму тень, а ее интерференционную картину (от краев волокна), тут тоже есть варианты.
AVB>> кадра. Остальные проблемы носят математический характер и AVB>> решаемы. EK> сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в EK> условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной EK> картине быть стабильной.
Да не надо ей быть стабильной. Лишь бы в процессе экпонирования кадра менялась незначительно (пренебрежимо мало). Время экспонирования может быть существенно меньше времени считывания ПЗС. Алгоритм простой: экспонирование - перенос - считывание. После переноса сигнал уже неподвержен влиянию внешней засветки, и может быть считан за большее время. Т.о. ширина временнОго окна экспонирования во времени ограничена в оснвном интенсивностью источника света и крутизной фронтов сигналов управления ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора и защищенной от света строки/полукадра, то можно включать источник света строго на время экспонирования (хоть десятки наносекунд для лазерных источников).
EK> И вообще - ума не приложу, с какого бока EK> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в EK> интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть - EK> можешь попробовать туда и волокно засунуть...
Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры реальных ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС. Измерять диаметр волокна интерферометром предложил не я. Так что засовывать интерферометр и волокно предлагаю тебе.
AVB>> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже AVB>> решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы AVB>> у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций AVB>> стоят куда менее остро. EK> Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать - EK> бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют EK> ?
Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что скорость меньше легче бороться с вибрациями стало? Как бы не наоборот.
Я хочу сказать, что у любой проблемы есть то или иное решение. Что касаемо вибраций, то несколько лет назад я учавствовал в разработке скоростной системы измерения геометрических размеров (расстояний), триангуляциионный метод. Так вот, система крепилась к рельсу железнодорожного полотна, принципиально не аммортизировано, и работала во время прохождения поездов (можешь оценить порядок ударных воздействий и вибраций). Точности там конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот основной проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе не сам процесс измерения.
WBR, AVB
Sun Oct 23 2005 01:08, Alexey V Bugrov wrote to Evgeny Kotsuba:
AVB> Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
AVB> 22 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:
AVB>>> делается сложение строк в выходном буфере ПЗС и в скорости мы не AVB>>> терям не в 1024 раза, а в нужное кол-во строк раз. EK>> ты интерферометр видел ? давно и не помнишь ? сильно рекомендую EK>> ознакомится или освежить в памяти.
AVB> Это возражение к чему относится? Могу еще раз медленно повторить: AVB> сколько строк нужно, во столько раз скорость и упадет, неважно сколько AVB> физических строк есть у ПЗС. И потом, скорость считывания кадра влияет AVB> только на интервал _между_ измерениями, но слабо на само измерение, AVB> длительность которого ограничена только интенсивностью источника AVB> света.
AVB> Причем здесь устройство интерферометра? Как его применить к этой задаче AVB> вопрос отдельный и я его не затрагиваю. да вот при том! см.ниже.
AVB>>> И еще, я не согласен, что для данных размеров (порядка 100 мкм) AVB>>> не будет работать теневой метод. Скорее всего будет, но придется AVB>>> делать дополнительный анализ картинки. EK>> Заявленая точность - 0.2 микрона. А теперь нарисуй рядом длину волны EK>> используемого источника.
AVB> Hу насчет 0,2 мкм я не посмотрел, но точности в единицы мкм при длине AVB> волны 650 нм для теневого метода вполне реально. AVB> И, потом, можно анализировать не саму тень, а ее интерференционную AVB> картину (от краев волокна), тут тоже есть варианты.
0.2 мкм = 200 нм. все, что сравнимо с длиной волны - это уже дифракция. А учитывая на чем дифрация, то это вообще хренпоймичего. (если дифрация на "ноже" - это если можно выразится - классический случай, а у тебя - нечто круглое и блестящее)AVB>>> кадра. Остальные проблемы носят математический характер и AVB>>> решаемы. EK>> сильно рекомендую найти интерферометр и попробовать его попользовать в ^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^^ EK>> условиях перемещения чего-либо и дать команду интерференционной EK>> картине быть стабильной.
AVB> Да не надо ей быть стабильной. Лишь бы в процессе экпонирования кадра AVB> менялась незначительно (пренебрежимо мало). Время экспонирования может AVB> быть существенно меньше времени считывания ПЗС. Алгоритм простой: AVB> экспонирование - перенос - считывание. После переноса сигнал уже AVB> неподвержен влиянию внешней засветки, и может быть считан за большее AVB> время. Т.о. AVB> ширина временнОго окна экспонирования во времени ограничена в оснвном AVB> интенсивностью источника света и крутизной фронтов сигналов управления AVB> ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора и защищенной от света AVB> строки/полукадра, то можно включать источник света строго на время AVB> экспонирования (хоть десятки наносекунд для лазерных источников). блин. Hу и что ты будешь мерять ?
EK>> И вообще - ума не приложу, с какого бока EK>> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - волокно в EK>> интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на поглядеть - EK>> можешь попробовать туда и волокно засунуть...
AVB> Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в AVB> способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры реальных AVB> ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС. Если я и усомнился в чем - так это в способности быстро снимать и передавать/обрабатывать массивы 1024x1024 * 200 мкс (~ 5Гб/сек)
AVB> Измерять диаметр AVB> волокна интерферометром предложил не я. Так что засовывать интерферометр AVB> и волокно предлагаю тебе.
AVB>>> И воообще, что-то мне подсказывает, что данные проблемы уже AVB>>> решены. Микросхемы делают далеко за субмикронную точность. Дятлы AVB>>> у них в цехах наверное не летают. Здесь же проблемы вибраций AVB>>> стоят куда менее остро. EK>> Вы хотите сказать, что микросхемы вылетают так и хочется сказать - EK>> бурным потоком - со скоростью 10м/cек и их на этой скорости обмеряют EK>> ?
AVB> Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что скорость меньше AVB> легче бороться с вибрациями стало? Как бы не наоборот. ну да. Производители микросхем дураки. Hадо экспонировать их на лету для уменьшения вибраций.
AVB> Я хочу сказать, что у любой проблемы есть то или иное решение. Что AVB> касаемо вибраций, то несколько лет назад я учавствовал в разработке AVB> скоростной системы измерения геометрических размеров (расстояний), AVB> триангуляциионный метод. AVB> Так вот, система крепилась к рельсу железнодорожного полотна, AVB> принципиально не аммортизировано, и работала во время прохождения AVB> поездов (можешь оценить порядок ударных воздействий и вибраций). AVB> Точности там конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот AVB> основной проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе не AVB> сам процесс измерения.
(а) точности не микроны (б) у измерения есть "ноль". Т.е. всякие вибрации, помехи и прочее убираются тупым усреднением. В случае интерфереграммы тупое усреднение работает, когда, допустим на оптическом столе (дура весом тонну, стоящая на виброопорах, стоящих на отдельном фундаменте) неподвижно закреплен объект измерения. А в предлагаемом случае - нет нуля. Привязаться не к чему. Интерференционные полосы - это разность хода луча в одну длину волны (650нм), но где первая, где вторая - неизвестно, если нет жесткой привязки. В случае с измерением профиля поверхности зеркала жесткая привязка в пространстве не нужна, нужно измерение профиля - чтоб был, скажем, парабалоид вращения с центром в геометрическом центре круглого зеркала.
Можно взять за ноль какой-то начальный размер волокна, но потом нужно непрерывно отслеживать полосы - куда какая убежала, т.е. "Алгоритм простой: экспонирование - перенос - считывание." работать не будет.
SY, EK
Пробовали, помнится, в студенческие годы заниматься подобной темой (толщину бумаги мерить). Первая мысля - оптика, интерференция и т.п. В итоге осталось как есть. А есть - радиационный толщиномер. Основная проблема из-за которой сыр-бор начался - толщина получается не в мм а в г/см, вроде.
"Alex Ershov" snipped-for-privacy@f81.n.z2.fidonet.org> сообщил/сообщила в новостях следующее: news: snipped-for-privacy@f81.n.z2.ftn...
Hi Evgeny, hope you are having a nice day!
23 Окт 05, Evgeny Kotsuba wrote to Alexey V Bugrov:AVB>> сигналов управления ПЗС. Если ПЗС не имеет электронного затвора AVB>> и защищенной от света строки/полукадра, то можно включать AVB>> источник света строго на время экспонирования (хоть десятки AVB>> наносекунд для лазерных источников). EK> блин. Hу и что ты будешь мерять ?
Это уже другой вопрос. Получить несмазанный кадр можно? Можно.
EK>>> И вообще - ума не приложу, с какого бока EK>>> можно засунуть интреферометр в это волокно или наоборот - EK>>> волокно в интерферометр. Кстати - если найдешь интерферометр на EK>>> поглядеть - можешь попробовать туда и волокно засунуть...
AVB>> Что-то ты определенно на грубость нарываешься. Ты усомнился в AVB>> способности ПЗС быстро снимать картинку, я тебе привел цифры AVB>> реальных ПЗС от Atmel-Grenoble. Есть еще более быстрые ПЗС. EK> Если я и усомнился в чем - так это в способности быстро снимать и EK> передавать/обрабатывать массивы 1024x1024 * 200 мкс (~ 5Гб/сек)
И что? 5 Гб/сек - это сырые данные. В нашей системе мы с каждой камеры имели 50 МБ/сек. А после ПЛИС, в реальном времени перемалывающей эту информацию, было уже 24 кб/сек, которая уже всасывалась в PC. Hе вижу никакой проблемы обрабаытвать хоть 10 Гб/сек, особенно в задачах, где результирующий объем данных невысок. Многие алгоритмы обработки эффективно распараллеливаются и зашиваются в жесткую логику.
AVB>> Измерять диаметр AVB>> Hет, их не обмеряют, их экспонируют. А что, от того, что AVB>> скорость меньше легче бороться с вибрациями стало? Как бы не AVB>> наоборот. EK> ну да. Производители микросхем дураки. Hадо экспонировать их на лету EK> для уменьшения вибраций.
Hе передергивай.
AVB>> оценить порядок ударных воздействий и вибраций). Точности там AVB>> конечно были не микроны, но десятые доли мм. Так вот основной AVB>> проблемой была механическая прочность конструкции, а вовсе AVB>> не сам процесс измерения.
EK> (а) точности не микроны EK> (б) у измерения есть "ноль". Т.е. всякие вибрации, помехи и прочее EK> убираются тупым усреднением.
Что с чем усреднять? В этой системе непрерывно (с дискретностью ~20 мкс) измеряется расстояние до точки профиля набегающего колеса (скорость до 100 км/ч). Hикаких усреднений там нет по определению, т.к. каждый раз мы измеряем расстояние до новой (другой) точки. Вот в этом случае мы, имея всего одномерную картинку после ряда преобразований получаем двумерный "срез" профиля колеса.
EK> Можно взять за ноль какой-то начальный размер волокна, но потом нужно EK> непрерывно отслеживать полосы - куда какая убежала, т.е. "Алгоритм EK> простой: экспонирование - перенос - считывание." работать не будет.
Это алгортим "снятия" картинки. Это исходные данные. Дальше с ними надо работать.
WBR, AVB
ElectronDepot website is not affiliated with any of the manufacturers or service providers discussed here. All logos and trade names are the property of their respective owners.